Microbiología Aplicada: Acceso Abierto
Acceso abierto

ISSN: 2471-9315

abstracto

Producción de levansacarasa a partir del aislado local Bacillus Lichniformans MJ8 y síntesis enzimática y caracterización de Levan

Mustafa M. Omar, Jasim M. Awda

A partir de cincuenta Bacillus spp purificados. Aislados, se encontraron veintiséis aislados productores de Levansacarasa. Ellos eran aislado de diferentes fuentes en Bagdad. Estos aislamientos fueron evaluados por su capacidad para producir Levansucrase, se encontró que los aislamientos designados S7, S8, S9, S10, S11, S12, S13, S14, F3, F4 y F5 (como se nombra en este estudio) los mayores productores de esta enzima por la formación de Levan en la membrana mucosa pegajosa visible alrededor del colonias, que se consideró un indicador primario de la producción de Levansacarasa. Todos los aislados fueron culturalmente y identificados morfológicamente para confirmar que pertenecen al género Bacillus sp. El tamizaje secundario se realizó en estos aislamientos por estimación Ensayo de Levansacarasa en medio de Caldo de Sales Minerales modificado agregando 20% de sacarosa, como el aislado bacteriano Bacillus sp. S8 se obtuvo del suelo cerca de la rizosfera de la stevia planta y fue superior en la cantidad de Levansacarasa producida, alcanzando 529,87 U/ml. Las pruebas de identificación de este aislado se realizaron estudiando las pruebas bioquímicas con el sistema compacto Vitek2. los resultados de la prueba fueron confirmados por la identificación del gen 16S rRNA mediante la reacción en cadena de la polimerasa (PCR) y su base nitrogenada secuenciación Los resultados revelaron que este aislado pertenece a este aislado local Bacillus licheniformis e identificó la cepa MJ8 de Bacillus licheniformis, y se registró con el Número de Acceso en el Banco de Genes: OM672244.1. El Levan se identificó y caracterizó después de extraerlo del aislado local eficiente utilizando un High Performance Técnica de cromatografía líquida (HPLC), espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier (FTIR), barrido de electrones Microscopio (SEM) y análisis de micrografía de fuerza atómica (AFM).

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