ISSN: 0976-4860
Francisco RamÃrez Moreno, Sebastián Velarde Córdova, Héctor Alejandro Peláez Molina, Homero Jaime RodrÃguez Centeno and Gustavo Lopez Badilla
Basado en el uso de herramientas de ingeniería industrial y computacional, se desarrolló un nuevo método con matriz VEGAM para la detección rápida y efectiva de los efectos del medio ambiente (clima y contaminación del aire) en los equipos y máquinas utilizados en la industria electrónica. Este se realizó con un staff desarrollado por expertos del Instituto Tecnológico Nacional con sede en el Instituto Tecnológico de Mexicali, obteniendo una eficiencia del 95% en su aplicación en la industria electrónica de la ciudad de Mexicali.