Revista Internacional de Avances en Tecnología

Revista Internacional de Avances en Tecnología
Acceso abierto

ISSN: 0976-4860

abstracto

Nueva Metodología de Análisis para Evaluar los Factores Ambientales y el Deterioro de Superficies Metálicas en la Industria Electrónica

Francisco RamÃrez Moreno, Sebastián Velarde Córdova, Héctor Alejandro Peláez Molina, Homero Jaime RodrÃguez Centeno and Gustavo Lopez Badilla

Basado en el uso de herramientas de ingeniería industrial y computacional, se desarrolló un nuevo método con matriz VEGAM para la detección rápida y efectiva de los efectos del medio ambiente (clima y contaminación del aire) en los equipos y máquinas utilizados en la industria electrónica. Este se realizó con un staff desarrollado por expertos del Instituto Tecnológico Nacional con sede en el Instituto Tecnológico de Mexicali, obteniendo una eficiencia del 95% en su aplicación en la industria electrónica de la ciudad de Mexicali.

Descargo de responsabilidad: este resumen se tradujo utilizando herramientas de inteligencia artificial y aún no ha sido revisado ni verificado.
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