Revista de Geología y Geofísica
Acceso abierto

abstracto

Estudio microestructural, Raman, EPMA y tomográfico de rayos X de la muestra de berilo (esmeralda) de Odisha

Jena relaciones públicas y Mishra PK

Este estudio presenta estudios de tomografía óptica, microestructural, EPMA y de rayos X de las muestras de berilo que contienen cromo de Bangiriposi, Mayurbhanj distrito de Odisha. Los estudios microscópicos detallados seguidos por el análisis EDAX de diferentes fases revelaron la presencia de silicato de aluminio y berilio como matriz principal con silicato de itrio, apatito, albita, cuarzo, circón, cordierita y ferichromita como inclusiones menores. Los datos Micro-Raman de la superficie pulida establecieron la presencia de gas (CO₂, CH₄), agua y otros minerales. Pocos elementos de tierras raras (lantánidos) como Ce, Nd, Gd, Y y Sc, junto con otros elementos de transición como Ti y Zr, Cs se encuentran presentes en estas muestras de berilo. El porcentaje de volumen de silicato, fosfato y óxido, así como las inclusiones gaseosas, se determinan mediante estudio tomográfico de rayos X y se encuentran en 24 %, 3,122 % y 6,717 % respectivamente.