ISSN: 2469-9861
Masashi Nojima, Tokio Norikawa y Naoya Kishimoto
Hemos estado desarrollando un nuevo analizador de masas tipo principio usando dos campos eléctricos rotatorios (REF). Este analizador de masas puede realizar la separación continua de masas de haces de iones con rango de masa libre y detección simultánea en un plano bidimensional (2D). En este artículo, nuestro objetivo era separar en masa la fuente de iones metálicos líquidos (LMIS) de AuGe en las frecuencias adecuadas. Luego, simulamos trayectorias de iones en REF mediante cálculos teóricos e identificamos los orígenes de cada patrón de anillo anular. Finalmente, confirmamos la certeza de los cálculos teóricos mediante imágenes de espectrometría de masas de iones secundarios de tiempo de combate (TOF-SIMS) de patrones de anillos anulares de AuGe impresos en una oblea de Si.